[ 楊志敏 ]——(2012-2-9) / 已閱16076次
實質(zhì)相同判斷標準就是權(quán)利要求記載的構(gòu)成與被控侵權(quán)物之間的非實質(zhì)差異標準。在這一標準上，德國采用基于技術(shù)特征比較的同一效果性+基于發(fā)明技術(shù)思想的實質(zhì)含義的等同解決手段(可簡稱為發(fā)明技術(shù)思想的實質(zhì)含義)標準，即同一效果性要件+發(fā)明技術(shù)思想的實質(zhì)含義要件。
相比之下，我國采用的實質(zhì)相同判斷標準是基于技術(shù)特征比較的功能-手段-效果三重檢驗標準，其具體構(gòu)成是：替換技術(shù)特征上的基本相同的功能要件+基本相同的手段要件+基本相同的效果要件。[36]其中，功能-效果雙重要件與德國的同一效果性要件具有一致性。但是，我國判斷標準中的基本相同的手段要件與德國判斷標準中的發(fā)明技術(shù)思想的實質(zhì)含義要件有差異。對基本相同的手段要件的判斷局限于對單一技術(shù)特征的對比，即僅僅要求被控侵權(quán)物中替換的技術(shù)特征在解決發(fā)明的相同技術(shù)問題時有著與權(quán)利要求中被替換的技術(shù)特征實質(zhì)一致的工作方式；而德國在認定發(fā)明技術(shù)思想的實質(zhì)含義時，雖然其對比的對象也置于技術(shù)特征的對比上，但在作具體判斷時并不拘泥于權(quán)利要求中某個或某幾個技術(shù)特征的文義記載，而是從權(quán)利要求的整體記載出發(fā)并參考說明書來進行認定，以確保替換的技術(shù)特征不影響或者不改變專利發(fā)明的技術(shù)思想。這點對我國有重大的啟示作用。因為僅做單一的技術(shù)特征對比有可能導致出現(xiàn)依照功能-手段-效果標準判斷適用的等同技術(shù)方案與專利技術(shù)不同的結(jié)果，這在合金、半導體或者化工領(lǐng)域表現(xiàn)得尤為突出。例如，權(quán)利要求=A+B+C，被控侵權(quán)物=A+B,+C，用功能-手段-效果標準來判斷時，雖然可得出B,與B等同的結(jié)論，但A+B,+C有可能是與A+B+C不相同的結(jié)晶物、半導體或者化合物。因此，我國在堅持功能-手段-效果三重檢驗標準的同時，在必要的時候還應(yīng)當采用德國的發(fā)明技術(shù)思想的實質(zhì)含義要件進行適當?shù)男Ｕ�。如果能這樣，那么我國就確立了二元性的實質(zhì)相同判斷標準：功能-手段-效果三重檢驗標準及功能-手段-效果三重檢驗標準+發(fā)明技術(shù)思想的實質(zhì)含義要件標準。
必須指出的是，德國的發(fā)明技術(shù)思想的實質(zhì)含義要件是建立在技術(shù)特征對比的基礎(chǔ)之上的。因此，德國法院主張專利等同原則也適用于從屬專利中，但否定不完全實施的專利等同原則適用。這些符合權(quán)利要求的公示與警示要求，對我國也有啟示作用。[37]
2.聯(lián)想容易性判斷標準
聯(lián)想容易性判斷標準帶有較濃厚的主觀色彩。在該標準的達成上，德國強調(diào)不需要本領(lǐng)域普通技術(shù)人員的創(chuàng)造性思維，只要求本領(lǐng)域普通技術(shù)人員依據(jù)自己的知識或者最多做簡單的試驗后就能知其可置換性和可實施性即可�？梢�，置換的容易程度是設(shè)在新穎性和比新穎性略高但又比創(chuàng)造性的水平明顯要低的水準范圍之內(nèi)。這點對我國也有很大的啟示作用。
在該標準的適用上，我國的替換特征是指本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員無需經(jīng)過創(chuàng)造性勞動就能夠聯(lián)想到的特征，[38]即把替換的聯(lián)想性判斷標準置于無創(chuàng)造性的范圍。這有要求過高之嫌。因為專利權(quán)利要求的警示作用是建立在發(fā)明所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員依據(jù)自己的專業(yè)知識在閱讀專利權(quán)利要求書和說明書之后一般都能預(yù)見自己利用相應(yīng)技術(shù)是否會構(gòu)成侵權(quán)的基礎(chǔ)之上的。如果采用完全的創(chuàng)造性判斷，那么發(fā)明所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員中多數(shù)人會因不懂得創(chuàng)造性的判斷方法而不能對自己實施的行為作出預(yù)先的合法性判斷，從而承擔不能回避侵權(quán)行為的不利益。這既削弱了權(quán)利要求的警示功能，又破壞了專利權(quán)人與公眾之間的利益平衡。因此，對我國的替換的聯(lián)想性標準的解釋應(yīng)該限定在無新穎性和明顯無創(chuàng)造性的范圍之內(nèi)。
當然，發(fā)明所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員對某一問題的認知程度是與自己所具有的技術(shù)水平相關(guān)聯(lián)的。一般而言，普通技術(shù)人員的技術(shù)水平會隨著時間的推移而不斷提升。因此，以何時的技術(shù)水平為標準來判定聯(lián)想容易性就顯得非常重要。我國法院的普遍做法是將侵權(quán)發(fā)生時的技術(shù)水平作為該聯(lián)想性標準的判斷前提，即采用侵權(quán)發(fā)生時說。但是，德國法院對待該問題的態(tài)度并不十分明確，以申請時說或優(yōu)先權(quán)日說為優(yōu)勢學說。應(yīng)該說，采用侵權(quán)發(fā)生時說更有利于保護專利權(quán)；同時又采用聯(lián)想容易性標準限定專利等同的范圍就不會損害公眾基于對權(quán)利要求記載的信賴而產(chǎn)生的自我約束力，從而維護權(quán)利要求記載的法律穩(wěn)定性。
(二)關(guān)于專利等同原則適用的消極判斷標準
專利等同原則適用的消極判斷標準實質(zhì)涉及以下兩個方面：
1.現(xiàn)有技術(shù)抗辯
德國現(xiàn)有技術(shù)抗辯采用的方法是將被控侵權(quán)物與現(xiàn)有技術(shù)相比較并審查其是否具有專利性(新穎性和創(chuàng)造性的審查)，并以此判斷被控侵權(quán)物是否屬于現(xiàn)有技術(shù)。
我國現(xiàn)有技術(shù)抗辯與德國現(xiàn)有技術(shù)抗辯的相同點是：(1)對比的對象相同。兩國都將被控侵權(quán)物與現(xiàn)有技術(shù)相比。(2)舉證責任相同。兩國都要求被控侵權(quán)人承擔現(xiàn)有技術(shù)證據(jù)的提供責任和證明責任。但是，兩國在現(xiàn)有技術(shù)抗辯的適用范圍方面存在巨大的差異。在將被控侵權(quán)物與現(xiàn)有技術(shù)進行比較時，我國審查的范圍只限于新穎性，而不審查創(chuàng)造性。[39]
本來，現(xiàn)有技術(shù)抗辯是建立在這樣的思維之上的：既然在相對于申請日之前的現(xiàn)有技術(shù)不具有新穎性和創(chuàng)造性的技術(shù)范圍內(nèi)專利權(quán)不成立，那么專利侵權(quán)也不成立。但是，我國現(xiàn)有技術(shù)抗辯只涉及新穎性范圍的判斷，過于狹窄，顯然不符合專利法的基本原理。因此，筆者主張我國現(xiàn)有技術(shù)抗辯的審查范圍應(yīng)該逐步過渡到與德國一致的范圍：鑒于我國法官暫時存在所謂素質(zhì)問題，可先在無新穎性和明顯無創(chuàng)造性方面允許采用現(xiàn)有技術(shù)抗辯，然后過渡到在無新穎性和無創(chuàng)造性的范圍允許采用現(xiàn)有技術(shù)抗辯。[40]
2.禁反悔
如上所述，禁反悔原則始終未能在德國得到真正且全面的確認。盡管如此，我們也不能完全排除審查檔案在德國專利等同解釋中的參考作用：出于當事人之間的信義關(guān)系，專利權(quán)人不能在侵權(quán)訴訟中對過去的異議人主張當初已放棄的對象進入專利等同范圍。相反，禁反悔在我國已經(jīng)作為專利等同成立的對抗要件來適用，這是我國借鑒美國、日本等國做法之后的司法選擇，但具體適用法則還有待在司法實踐中完善。
注釋:
[1]D er Schut zbereich d es Pat en t s u nd der Pat ent anmeldung w ird du rch die Pat ent ans pr ch e bes tim mt.D ie Bes chreibung und die Zei chnu ngen sin d jedoch zur A usl egun g der Pat ent anspr che heran zuziehen.
[2]V gl.Ballhaus&Si kinger:D er Sch ut zumf an g des Pat ent s nach 14 PatG,GR U R 1986,S.337.
[3]V gl.BG H,seq-Bierkl rm itt el,G RU R 1984,S.425.
[4]V gl.BG H,seq-Bef est igungsvorricht ung,G RU G 1987,S.280;BG H,s eq-Ionenan aly se,G RU G 1988,S.896;BGH,seq-Bat t eriekast ens chnu r,GR U G 1989,S.903.
[5]Vgl.BG H,seq-Form st ein,G RU R 1986,S.803;BG H,seq-Ionenan aly se,G RU R 1988,S.896;BG H,seq-S chw ermet all ox ydat ions-K at aly sat or,G RU R 1989,S.205-208.
[6]V gl.BG H,seq-Formst ein,G R U R 1986,S.803;BG H,s eq-Ion enanal yse,G R U R 1988,S.896.
[7]BG H,seq-Schnei dmes ser,G R U R 2002,S.515;BG H,s eq-S chn eidmesser,GR U R 2002,S.519;BG H,seq-Baum scheib enabdeckung,G R U R 2006,S.311.
[8][12]V gl.BG H,seq-Ionenan alys e,G RU R 1988,S.896.
[9][11][18]BGH,seq-Form st ein,G RU R 1986,S.803.
[10]BG H,seq-Schw erm et al loxidati on s-K at alysat or,GR U R 1989,S.205.
[13] BG H,seq-Ionen analys e,G RU R 1988,S.896;BG H,s eq-S chn eidmesser,GR U R 2002,S.515.
[14]BG H,seq-Schw erm et al loxydation s-K at alysat or,G RU R 1989,S.205;BGH,seq-Bat t eriek ast enschnur,G RU R 1989,S.904;BG H,s eq-Schn eidmesser,G RU R 2002,S.515.
[15] BG H,seq-Schneidmes ser,G R U R 2002,S.515.
[16]V gl.BG H,seq-Zierfalt en,GR U R 1965,S.231;BG H,seq-K ont ak tf ederbl ock,G RU R 1999,S.914.
[17[22]]V gl.BG H,seq-K ont akt federb lock,G RU R 1999,S.914.
[19][日]V olker V oss ius:德國專利保護范圍的確定(權(quán)利要求的解釋),載青山葆、木棚照一編:國際專利侵權(quán)專利糾紛處理的比較法研究,日本東京布井出版社1996年版,第283-284頁。
[20]V gl.BG H X ZR 74/94,C V ol.30,N o.5/1999.S.558.
[21]BG H,seq-W ei chvorrich tu ng,GR U R 1993,S.88;BG H X ZR 73/95 Weichvorricht ung.
[23]V gl.BG H R G,seq-M ip ol am,G R U R 1938,S.706.
[24]V gl.BG H,seq-M et ronidazol,G RU R 1975,S.425.
[25]V gl.BG H,seq-S chaumst of fe,G RU R 1979,S.271.
[26]V gl.A lf red K eu ken schri jver-Bus se,Pat ent gesetz,5.A uf l.,14 Rdn 89,S.277;Pet er mes.Pat ent ges et z G ebrau chsm ust erges et z,1997,14 R dn 13;Brun ner,sic.1998,S.348.
[27]BG H,seq-Bef est igungsvorricht ung,G RU R 1991,S.436.
[28]V gl.BG H,seq-D rillm as chine,GR U R 1961,S.409;BG H,seq-Bef est igungsvorricht ung,G RU R 1991,S.436.
[29]這一問題的實質(zhì)又涉及如何對待獨立權(quán)利要求中多余技術(shù)特征的問題,該問題在我國通常稱為多余限定問題。
[30]V gl.BG H,seq-N obelt-Bun d,GR U R 1955,S.29;BG H,s eq-K on t erhauben-Sch rumpf syst em,G RU R 1985,S.520;BG H,s eq-Bef est igun gsvorricht un g,G R U G 1987,S.280.
[31]V gl.BG H,seq-/N obelt-Bund0,G RU R 1955,S.29;BG H,s eq-/S t andt ank0,G RU R 1962,S.575.
[32]V gl.BG H,seq-/A ut ow asch vorri cht ung0,G RU R 1991,S.444.
[33]V gl.BG H,seq-/Beheiz bar er-A t em luf t schl auch0,G RU R 1992,S.40.
[34]V gl.BG H,seq-/S chneidmesser?0,GR U R 2002,S.515;BG H,seq-/S chneidmes serò0,GR U R 2002,S.519;BG H,seq-/C ust odiolò0,GR U R 2002,S.527.
[35]V gl.BG H,seq-/Zerf allsz eit messger?t0,G RU R 2007,S.1059.
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